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            FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡隔振方案

            作者:至一科技 日期:2021-01-03 點擊:3236
            一鍵分享

            FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡隔振方案

            ArisMD300主動隔振系統


            背       景:應用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡成像檢測,是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺。

            使用單位:廈門稀土材料研究所

            地      點:福建省廈門市集美區兌山西珩路258號

            儀器型號:FEI Apreo S LoVac

            隔振方案:ArisMD300主動隔振系統


            ARISMD300主動隔振臺.jpg

            廈門稀土研究所賽默飛Spreo S SEM01.jpg

            FEI Apreo S LoVac場發射掃描電子顯微鏡ArisMD300主動隔振系統應用安裝圖

            成像測試:

            Spreo S SEM成像圖01.jpg

            Spreo S SEM成像圖02.png

            Apreo S 電鏡掃描圖像65萬倍對比(安裝ArisMD300前后)

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